増崎 幸治 | 日本電気株式会社

スポンサーリンク

概要

• 増崎 幸治の詳細を見る
• 同名の論文著者
• 日本電気株式会社の論文著者

関連著者

• 増崎 幸治

  日本電気株式会社

• 小倉 卓

  Necエレクトロニクス株式会社

• 小倉 卓

  (株)genusion

• 五十嵐 信行

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 渡部 宏治

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 渡辺 啓仁

  日本電気株式会社

• 西藤 哲史

  日本電気株式会社

• 辰巳 徹

  日本電気株式会社

• 辰巳 徹

  NEC シリコンシステム研究所

• 最上 徹

  Nec シリコンシステム研究所

• 寺井 真之

  早稲田大学

• 寺井 真之

  日本電気株式会社デバイスプラットフォーム研究所

• 岩本 敏幸

  NEC シリコンシステム研究所

• 小倉 卓

  NEC シリコンシステム研究所

• 寺井 真之

  NEC シリコンシステム研究所

• 渡辺 啓仁

  NEC シリコンシステム研究所

• 渡部 平司

  NEC シリコンシステム研究所

• 五十嵐 信行

  NEC シリコンシステム研究所

• 宮村 真

  NEC シリコンシステム研究所

• 西藤 哲史

  NEC シリコンシステム研究所

• 森岡 あゆ香

  NEC シリコンシステム研究所

• 渡部 宏治

  NEC シリコンシステム研究所

• 斎藤 幸重

  NEC シリコンシステム研究所

• 矢部 裕子

  NEC シリコンシステム研究所

• 五十嵐 多恵子

  NEC シリコンシステム研究所

• 増崎 幸治

  NEC シリコンシステム研究所

• 望月 康則

  NEC シリコンシステム研究所

• 辰巳 徹

  日本電気株式会社 シリコンシステム研究所

• 高橋 健介

  日本電気株式会社

• 最上 徹

  Nec シリコンシステム研

• 最上 徹

  Necシステムデバイス研究所

• 五十嵐 多恵子

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 森岡 あゆ香

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 望月 康則

  Necシステムデバイス研究所

• 渡部 平司

  NECシステムデバイス研究所

• 砂村 潤

  Nec基礎・環境研究所:科学技術振興機構

• 砂村 潤

  日本電気株式会社

• 白井 浩樹

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発事業部

• 間部 謙三

  日本電気株式会社

• 岩本 俊幸

  Nec Electronics Corporation

• 辰巳 徹

  Nec シリコンシステム研

• 五十嵐 信行

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 渡部 宏治

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 増崎 幸治

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 中川 隆史

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 白井 浩樹

  Necエレクトロニクス株式会社

• Terai Masayuki

  Department Of Applied Physics Waseda University

• 森岡 あゆ香

  NECグリーンイノベーション研究所

• 砂村 潤

  ルネサスエレクトロニクス先行研究統括部

もっと見る 閉じる

著作論文

• Poly-Si/HfSiO/SiO_2ゲート構造を用いた低電力、高速HfSiOゲートCMOSFET(IEDM特集:先端CMOSデバイス・プロセス技術)
• 混載メモリ応用へ向けた相制御Ni-FUSI/HfSiONゲートスタックのインテグレーション技術
• HfO_2/SiO_2界面の熱安定性のHAADF-STEM評価 : Hf分布の定量的測定と拡散係数の決定

スポンサーリンク