五十嵐 信行 | NECデバイスプラットフォーム研究所

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概要

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• 同名の論文著者
• NECデバイスプラットフォーム研究所の論文著者

関連著者

• 五十嵐 信行

  NEC(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気(株)システムデバイス研究所

• 五十嵐 信行

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 渡部 宏治

  日本電気株式会社システムデバイス研究所

• 増崎 幸治

  日本電気株式会社

• 五十嵐 信行

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 渡部 宏治

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 増崎 幸治

  NECデバイスプラットフォーム研究所

• 中川 隆史

  NECデバイスプラットフォーム研究所

著作論文

• HfO_2/SiO_2界面の熱安定性のHAADF-STEM評価 : Hf分布の定量的測定と拡散係数の決定

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