保原 麗 | 東大理
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概要
関連著者
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保原 麗
東大理
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保原 麗
東京大学大学院理学系研究科物理学教室
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長谷川 修司
東大理
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平原 徹
東大理
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長谷川 修司
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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松田 巌
東大理
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吉本 真也
東大物性研
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永村 直佳
東大理
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沖野 泰之
東大理
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山崎 詩郎
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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吉本 真也
東大理
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永村 直佳
東大院工:東大放射光機構
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山崎 詩郎
東京大学大学院理学系研究科:npo法人science Station
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金川 泰三
東大理
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保原 麗
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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植竹 智哉
東大理
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長谷川 修司
東京大学大学院理学研究科
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松田 巌
東大物性研
-
松田 巌
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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山崎 詩郎
東大理
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白木 一郎
東京大学大学院理学系研究科物理学教室
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劉 燦華
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
-
金川 泰三
東京大学大学院理学系研究科物理学教室
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田邊 輔仁
東京大学大学院理学系研究科物理学教室
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田辺 輔仁
東大理
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尾浦 憲治郎
大阪大学大学院
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最首 祐樹
東大理
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小林 功佳
お茶の水大理
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生野 孝
阪大工
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本多 信一
Division Of Electrical Electronic And Information Engineering Graduate School Of Engineering Osaka U
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Honda Shin-ichi
Department Of Electronic Engineering Graduate School Of Engineering Osaka University
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片山 光浩
Division Of Electrical Electronic And Information Engineering Graduate School Of Engineering Osaka U
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Katayama Mitsuhiro
Osaka Univ. Osaka Jpn
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尾浦 憲治郎
阪大工
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守川 春雲
延世大学
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片山 光浩
阪大工
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森川 春雲
東大理
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細村 嘉一
東大理
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上野 将司
東大理
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小林 功佳
お茶大理
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本多 信一
阪大工
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小林 功佳
お茶の水女子大学理学部物理学科
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上田 洋一
東大理
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山田 学
東大理
-
永村 直佳
東大工
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長尾 忠昭
物材機構
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谷川 雄洋
東大理
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柿崎 明人
東大物性研
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奥田 太一
広大放射光セ
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奥田 太一
広大放セ
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山田 学
東京大学
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松田 巌
東京大学物性研究所
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小河 愛実
東京大学理学系研究科物理学専攻
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柿崎 明人
東京大学物性研究所
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中山 泰生
千葉大先進
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中山 泰生
千葉大学先進科学センター
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市川 昌和
CREST-JST
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松田 厳
東大物性研
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谷川 雄洋
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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Wongwiriyapan Winadda
阪大工
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高瀬 恵子
東大理
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奥田 太一
広島大学放射光科学研究センター
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長尾 忠昭
東大理
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平原 徹
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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守川 春雲
東大理
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長村 俊彦
(株)ユニソク
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宮田 伸弘
東大理
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芝崎 剛豪
東大理
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山崎 詩郎
東大物性研
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Kim Y.K.
Inha大
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保原 麗
東大物性研
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Lee G.
Inha大
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中山 泰生
CREST-JST
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松田 巌
ISSP
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守川 春雲
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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Zhian He
Arizona State Univ.
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Bennett Peter
Arizona State Univ.
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上野 将司
東京大学大学院理学系研究科物理学専攻
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宮田 信弘
東大理
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北岡 佑介
東大理
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村田 祐也
阪大工
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岸田 優
阪大工
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前田 大輔
阪大工
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保田 達郎
阪大工
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須川 淳
東大理
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劉 燦華
東大・理
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山崎 詩郎
東大・理
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保原 麗
東大・理
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松田 巌
東大・理
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長谷川 修司
東大・理
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東野 剛之
東大理
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山内 規裕
阪大工
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PETERSEN Christian
Capres A/S
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HANSSEN Torben
デンマーク工科大学マイクロエレクトロニクスセンター
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BOGGILD Peter
デンマーク工科大学マイクロエレクトロニクスセンター
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GREY Francois
デンマーク工科大学マイクロエレクトロニクスセンター
-
Grey F
デンマーク工科大学マイクロエレクトロニクスセンター
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何 珂
東京大学物性研究所
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山田 学
東海大理
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小河 愛実
東大物性研
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平原 徹
東京大学大学院理学系研究科
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奥田 太一
広島大放セ
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Peterson C
Capres A/s
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山内 規裕
大阪大学大学院工学研究科電子工学専政
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山田 学
東理大理
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白木 一郎
東大理
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市川 昌和
Crest-jst:東大工
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長尾 忠昭
物質・材料研究機構 ナノシステム機能センター
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長村 俊彦
ユニソク
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高瀬 恵子
Ntt物性科学基礎研究所
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Katayama Mitsuhiro
Division Of Electrical Electronic And Information Engineering Graduate School Of Engineering Osaka U
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永村 直佳
東工大
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松田 巌
東大物性研究所
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He Ke
中国科学院
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福居 直哉
東大理
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高瀬 恵子
Ntt物性基礎研
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奥田 太一
広大放射光セ・先端計測
-
奥田 太一
広大放射光
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白木 一郎
産総研
著作論文
- 22pGL-4 シリコン上コバルト薄膜の磁気光学Kerr効果測定(22pGL 領域3,領域9合同 表面・界面磁性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 22pGL-4 シリコン上コバルト薄膜の磁気光学Kerr効果測定(22pGL 領域3,領域9合同 表面・界面磁性,領域3(磁性,磁気共鳴))
- 20pGQ-10 低温型独立駆動4探針STMによるSi(111)4×1-In上Ag薄膜の輸送特性測定(20pGQ 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 22aXA-11 Si(111)4×1-In表面の相転移と欠陥の効果II(22aXA 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 18aTG-11 極薄Si酸化膿上Geナノドットの伝導機構の研究(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 20aPS-10 金属蒸着したシリコン表面上の電気伝導度異方性(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 30pYB-4 Au/Si(553)表面の表面電気伝導度の温度依存性(30pYB 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24pXC-3 CoSi_2ナノワイヤの電気伝導特性(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 27aWP-6 Au/Si(557)表面の電気伝導度の異方性(表面界面電子物性(半導体・無機))(領域9)
- 結晶表面上単原子ステップの電気抵抗
- 23aYH-9 In/Si(111)-√×√表面超構造の金属伝導と絶縁体転移(23aYH 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24aXB-6 PtIr被覆カーボンナノチューブ探針を用いたSi(111)-√×√-Ag表面の電気伝導測定(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 18pTG-4 Mn吸着したSi(111)√3×√3-Ag表面のSTMおよび光電子分光測定(表面界面電子物性,領域9,表面・界面,結晶成長)
- 単原子ステップを通過する表面自由電子
- 4探針STMで何ができるのか (走査プローブ顕微鏡で見る固体物理 特集号) -- (輸送現象)
- 吸着原子誘起の局在状態と表面自由電子ガスとの相互作用
- 24pXC-1 金属被覆カーボンナノチューブ探針の電気伝導特性(ナノワイヤ・ナノチューブ,領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 24aPS-131 表面状態のホール抵抗測定(表面・界面, 結晶成長,領域9(表面・界面, 結晶成長))
- 14aXG-10 低温型四探針 STM による電気伝導測定(表面界面電子物性, 領域 9)
- 21aYD-7 STM/STS 測定による Si(111)√3x√3-Ag 表面ステップの研究
- 21aYC-5 二次元気相・液相・固相相転移の原子直視
- 20aPS-79 独立駆動型 4 探針 STM を用いた CNT 電気伝導測定
- 4探針STMの開発と表面電子輸送の測定
- ミクロな4端子プローブによる表面電気伝導の測定
- 28aYQ-10 独立駆動型四探針STM装置による表面電気伝導の測定
- 27pPSA-5 低温型独立駆動4探針STMによるSi(111)4×1-In上Ag薄膜の輸送特性測定II(27pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23pPSB-3 低温型独立駆動4探針STMによるSi(111)4×1-In上Ag薄膜の輸送特性測定III(23pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 23pPSA-5 集束イオンビーム複合型低温4探針STM装置の開発(23pPSA 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 22pRC-4 Si(111)-4×1-In表面の異方的表面電気伝導度の温度依存性(22pRC 表面界面電子物性(表面伝導・光電子分光),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 22pRC-2 高磁場下サブケルビン・マイクロ4端子プローブ装置の開発(22pRC 表面界面電子物性(表面伝導・光電子分光),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 24pCK-10 In,Pbモノレイヤー超伝導体の超伝導転移および臨界磁場測定(24pCK 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))
- 7aSM-12 正方4端子法による表面電気伝導度測定(表面界面構造・電子物性,領域9)
- 24aYF-9 4探針STMによる表面電気伝導測定(24aYF 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長分野))