PVT-induced timing error detection through replica circuits and time redundancy in reconfigurable devices
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概要
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This paper studies performance and timing failure probability of time-shifted redundant circuits and path-/circuit-replica circuits. Measurement-based experiments using a fabricated test chip are performed. For an approximately similar false positive error probability for the path-replica and circuit-replica, the false negative error probability of the circuit-replica is approximately two orders of magnitude less than that of the path-replica circuits. When attaining a false negative error of zero, the probability of error detection and re-execution in time-shifted redundant circuits is comparable to, or rather smaller than that of the path-replica circuits.
著者
-
Onoye Takao
Department Of Communications And Computer Engineering Kyoto University
-
Hashimoto Masanori
Department Of Breast And Endocrine Surgery University Of Tokyo
-
Mitsuyama Yukio
JST, CREST
-
Alnajjar Dawood
Department of Information Systems Engineering, Osaka University
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