局所ポテンシャル障壁高さ計測における条件依存性の判別
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概要
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We have reported an experimental study of the apparent local barrier height (LBH) as measured by STM corresponding to the work function on nanometer scale. Dependence of the LBH on the STM measurement conditions of tunnel current, bias voltage and tip-sample separation was precisely measured under fixing each measurement condition. We found that LBH on the reconstructed Au (111) surface with an Au tip depends exclusively on the tip-sample separation in our experimental conditions of <I>I</I>= 5 nA and <I>V</I>=-30 mV.
- 日本真空協会の論文
- 2003-04-20
著者
-
吉武 道子
物質・材料研究機構 半導体材料センター
-
柳生 進二郎
物質・材料研究機構 半導体材料センター
-
吉武 道子
(独)物質・材料研究機構半導体材料研究センター
-
柳生 進二郎
筑波大学物理工学系
-
柳生 進二郎
物質・材料研究機構 ナノマテリアル研究所
-
吉武 道子
金属材料技術研究所
-
吉武 道子
物質・材料研究機構
-
吉武 道子
「応用物理」 編集委員会
-
柳生 進二郎
物質・材料研究機構manaナノエレクトロニクス材料ユニット
-
柳生 進二郎
物質・材料研究機構 ナノエレクトロニクス材料ユニット
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