RHEEDによるSi (100) の2×1表面構造とその上でのSiエピタキシーの観察
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概要
著者
-
岸田 悟
鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻
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石原 永伯
鳥取大学工学部
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西守 克己
鳥取大 大学院
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西守 克己
鳥取大学工学部
-
徳高 平蔵
鳥取大学工学部
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田門 立身
鳥取大学工学部電子工学科
-
荒瀧 明弘
鳥取大学工学部電子工学科
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