21aAG-5 円板状明視野検出器による軽元素検出STEM結像法(21aAG X線・粒子線(電子線・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2012-08-24

著者

• 渡辺 和人

  都立産技高専

• 山崎 貴司

  富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研究所

• 小高 康稔

  東大工

• 山崎 貴司

  東京理科大学 理学部

• 大塚 真弘

  東理大理

• 小高 康稔

  富士通研

• 山崎 貴司

  富士通研

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