24aZD-11 電子顕微鏡を用いたa-plane GaN/InGaNの極性に関する構造評価(24aZD 領域10,領域4合同招待講演,領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 2006-08-18

著者

• 橋本 巌

  東理大理

• 山崎 貴司

  富士通研究所

• 橋本 巌

  東理大物理

• 山崎 貴司

  東理大理

• 倉持 幸治

  東理大理

• 橋本 巖

  東理大理

• 大川 和宏

  東理大理

• 大川 和宏

  東理大応用理:jst Erato

• 草部 一秀

  東理大理

• 草部 一秀

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