21aYM-7 Layer-by-layer法を用いたHAADF STEM計算の改良(X線・粒子線(中性子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 2005-08-19

著者

• 橋本 巌

  東理大理

• 渡辺 和人

  都立産技高専

• 山崎 貴司

  富士通研究所

• 橋本 巌

  東理大物理

• 山崎 貴司

  東理大理

• 渡辺 和人

  都立高専

• 倉持 幸治

  東理大理

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