28pYA-14 Ronchigramを用いたレンズ定数の測定(28pYA X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2006-03-04

著者

• 橋本 巌

  東理大理

• 渡辺 和人

  都立産技高専

• 山崎 貴司

  富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研究所

• 橋本 巌

  東理大物理

• 渡辺 和人

  都立高専

• 小高 康稔

  東大工

• 倉持 幸治

  東理大理

• 菊地 吉男

  MIRAIプロジェクト

• 山崎 青司

  東理大理

• 小高 廣稔

  富士通研

• 橋本 巖

  東理大理

• 小高 康稔

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