26aYK-5 高分解能HAADF STEM像における検出角度と像強度の依存性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2009-08-18

著者

• 山崎 貴司

  富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研究所

• 小高 康稔

  東大工

• 山崎 貴司

  株式会社富士通研究所

• 山崎 貴司

  東京理科大学 理学部

• 小高 康稔

  株式会社富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研

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