小高 康稔 | 株式会社富士通研究所

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概要

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関連著者

• 山崎 貴司

  富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研究所

• 小高 康稔

  東大工

• 山崎 貴司

  株式会社富士通研究所

• 山崎 貴司

  東京理科大学 理学部

• 小高 康稔

  株式会社富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研

• 塚田 峰春

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• 片岡 祐治

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• 片岡 裕治

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• 添田 武志

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著作論文

• 21aHS-5 高分解能プラズモンロス像の計算方法とその応用(21aHS X線・粒子(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))
• 27pRE-8 球面収差補正電磁レンズの色収差係数測定方法(27pRE X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
• 26aYK-5 高分解能HAADF STEM像における検出角度と像強度の依存性(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 26aYK-4 多変量解析を応用した高分解能電子顕微鏡像のノイズ処理(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)
• 25pWZ-5 プラズモンロスに空間分布を有するSTEM-EELS像の計算(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))
• 27pTN-10 ZernikeモーメントとCBED像を用いた歪み解析法の提案(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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