27pTN-10 ZernikeモーメントとCBED像を用いた歪み解析法の提案(27pTN X線・粒子線(陽電子・電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2011-03-03

著者

• 山崎 貴司

  富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研究所

• 小高 康稔

  東大工

• 山崎 貴司

  株式会社富士通研究所

• 山崎 貴司

  東京理科大学 理学部

• 小高 康稔

  株式会社富士通研究所

• 添田 武志

  株式会社富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研

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