21aHS-4 球面収差補正STEM像の結像に及ぼす色収差係数の影響(21aHS X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2010-03-01

著者

• 渡辺 和人

  都立産技高専

• 山崎 貴司

  富士通研究所

• 小高 康稔

  富士通研究所

• 渡辺 和人

  東京都立工業高等専門学校

• 小高 康稔

  東大工

• 山崎 貴司

  東京理科大学 理学部

• 小高 康稔

  富士通研

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