1502 デジタル画像相関法によるFlip Chipパッケージ内部のひずみ測定とFEM解析精度の向上(OS15.電子デバイス・電子材料と計算力学(1),オーガナイズドセッション)
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概要
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- 一般社団法人日本機械学会の論文
- 2009-10-10
著者
-
池田 徹
京都大学大学院工学研究科
-
宮崎 則幸
京都大学大学院工学研究科
-
宮崎 則幸
京大工
-
池田 徹
京大
-
池田 徹
京大工
-
宮崎 則幸
九州大学大学院工学研究院化学工学部門
-
宮崎 則幸
京大
-
田中 宏之
住友ベークライト(株)
-
田中 宏之
住友ベークライト生産技術研究所
-
貫野 敏史
京都大学大学院工学研究科
-
貫野 敏史
京大院
-
宮崎 則之
京大工
-
田中 宏之
住友ベークライト
-
Miyazaki Noriyuki
Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute Komazawa Office
-
宮崎 則幸
九州大学
-
畑尾 卓也
住友ベークライト(株)
-
宮崎 則幸
九州大学工学部化学機椀工学科
-
畑尾 卓也
住友ベークライト (株) 基礎研究所
-
池田 徹
鹿児島大学大学院理工学研究科
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