103 レーザ走査型顕微鏡画像を用いた画像相関法によるひずみ計測の高精度化(OS01.電子デバイス・電子材料と計算力学(1))

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概要

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• 社団法人日本機械学会の論文
• 2007-11-25

著者

• 池田 徹

  京都大学大学院工学研究科

• 宮崎 則幸

  京都大学大学院工学研究科

• 宮崎 則幸

  京大工

• 宍戸 信之

  京都大学大学院工学研究科

• 池田 徹

  京大

• 宍戸 信之

  京大院

• 池田 徹

  京大工

• 宮崎 則幸

  京大

• 宮崎 則之

  京大工

• Miyazaki Noriyuki

  Tokyo Metropolitan Industrial Technology Research Institute Komazawa Office

• 宮崎 則幸

  九州大学工学部化学機椀工学科

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