1106 ナノワイヤの電気機械計測 : Pdナノ粒子で修飾されたlambda-DNAワイヤの特性評価(要旨講演,マイクロメカトロニクス)
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概要
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We demonstrate to modify DNA by coating Pd nano particle and measured an electrical characteristic of the DNA-Pd wire using the DNA tweezers. In this paper, we report a high sensitivity piezo-resistance measurement of DNA-Pd wire. The wire is prepared capturing between the probe tips of the tweezers. An AFM probe (spring constant: 0.02N/m) can be used for giving a displacement to the wire and the displacement is also detected by AFM system. An electric current through the wire was monitored by lock-in-amplifier applying 0.1Hz sine wave voltage. I-V curves of the DNA-Pd wire were measured just before bending and during 800nm bending of the wire respectively. The resistivity of the fabricated Pd wire was estimated to be 16.9Ω・cm. The resistance of the wire was changed from 0.429Ω to 0.453Ω by the extension. As demonstrated here, this method is useful for an electro-mechanical evaluation technique of nano materials.
- 社団法人日本機械学会の論文
- 2007-03-19
著者
-
綾野 賢治郎
香川大
-
橋口 原
香川大
-
細木 真保
香川大学
-
藤田 博之
東京大学
-
藤田 博之
東大生産研
-
藤田 博之
東大生研
-
橋口 原
静岡大学
-
藤田 博之
東大・生研
-
芳賀 正明
中央大学理工学部 応用化学科
-
細木 真保
香川大学工学部知能機械システム工学科
-
細木 真保
静岡大学
-
綾野 賢二郎
香川大
-
米澤 徹
東大
-
細木 真保
香川大
-
HASHIGUCHI Gen
Research Institute of Electronics Shizuoka University
-
橋口 原
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
-
芳賀 正明
中央大
-
藤田 博之
東大・生産研・CIRMM
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