C-4-8 膜厚差のあるInGaAlAs-InGaAsPバットジョイント接続の光損失評価(C-4.レーザ・量子エレクトロニクス,一般講演)
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概要
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- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2007-08-29
著者
-
塩田 貴支
(株)日立製作所 中央研究所
-
篠田 和典
(株)日立製作所中央研究所
-
北谷 健
(株)日立製作所中央研究所
-
牧野 茂樹
(株)日立製作所中央研究所
-
青木 雅博
(株)日立製作所中央研究所
-
北谷 健
(株)日立製作所 中央研究所
-
牧野 茂樹
株式会社日立製作所 中央研究所
-
青木 雅博
(株)日立製作所 中央研究所
-
篠田 和典
(株)日立製作所 中央研究所
-
深町 俊彦
(株)日立製作所 中央研究所
-
深町 俊彦
東京大学生産技術研究所ナノエレクトロニクス連携研究センター:財団法人光産業技術振興協会:日立製作所中央研究所
-
深町 俊彦
日立 中研
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