網膜に学んだエッジ検出アナログ回路における素子特性のばらつきによる誤動作の改善
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概要
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本報告では、網膜に学んだエッジ検出回路を構成するM0Sトランジスタのしきい値および利得係数のばらつきによる影響を確認し、回路の改良を行った。従来のエッジ検出回路は、主にカレントミラー回路で構成したアナログ回路であるため、素子特性にばらつきがある場合、誤動作が生じるという問題点があった。改良したエッジ検出回路には、素子特性のぱらつきに強いフィードバック回路を導入した。これにより、素子特性のばらつきに弱いカレントミラー回路を用いることなく、エッジ検出回路を構成することができた。改良したエッジ検出回路では、MOSトランジスタのしきい値および利得係数が同時にばらついた場合でも、エッジの位置を検出できることが、SPICEを用いた回路シミュレーションにより明らかとなった。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-09-20
著者
-
古川 雄三
豊橋技術科学大学 工学研究科
-
米津 宏雄
豊橋技術科学大学 工学研究科
-
米津 宏雄
Department Of Electrical And Electronic Information Engineering Toyohashi University Of Technology
-
高崎 哲
豊橋技術科学大学電気・電子工学系
-
澤 伸也
豊橋技術科学大学電気・電子工学系
-
安部 浩史
豊橋技術科学大学電気・電子工学系
-
澤 伸也
豊橋技術科学大学 電気・電子工学系
-
安部 浩史
豊橋技術科学大学 電気・電子工学系
-
西尾 公裕
豊橋技術科学大学電気・電子工学
-
Kariyawasam Amal
豊橋技術科学大学 電気・電子工学系
-
西尾 公裕
豊橋技術科学大学 電気・電子工学系
-
Amal Bandula
豊橋技術科学大学電気電子工学系
-
Amal Bandula
豊橋技術科学大学電気・電子工学系
-
米澤 宏雄
豊橋技術科学大学電気・電子工学系
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