ランダム入力による並列故障シミュレーションを利用した順序回路のテスト生成
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概要
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並列故障シミュレーションを利用した順序回路のランダム入力による簡易テスト生成法を述べる.提案するテスト生成法は,故障に対するコスト関数を用いないで,単にテスト生成時における回路の状態のみに着目し,ランダム入力でより多くの状態に対する故障シミュレーションを行うことによりテスト系列を生成する.本手法では,順序回路の一つの状態から遷移する次の状態を1度に拡大する入力並列シミュレーション(I-Mode)と,生成された複数の状態を並列にシミュレーションする状態並列シミュレーション(S-Mode)を利用し,状態を監視しながらI-ModeとS-Modeを動的に切り換えて回路の状態を制御しテスト系列を生成する.提案するテスト生成法をISCAS'89のベンチマーク回路によって評価した結果は,ランダム入力により実用的な時間で高い故障検出率のテスト系列が生成できることを示している.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-12-25
著者
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