入力/状態・並列故障シミュレーションを用いた順序回路のテスト生成について
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概要
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入力並列および状態並列を併用した入力, 状態・並列故障シミュレーション法を提案し,これを用いた順序回路のテスト生成について考察する.提案する入力/状態・並列故障シミュレーションは,順序回路の一つの状態から到達可能な状態を一度に拡大する入力並列故障シミュレーション(Phasel)と,生成された回路の複数の状態を並列に処理する状態並列故障シミュレーション(Phase2)からなる.Phase2の状態並列故障シミュレーションは,これまでにない新しい概念である.提案する手法はコスト関数を導入することなく,少ない処理でより多くの状態における故障シミュレーションによってテスト系列を生成しようとするものである.本手法ではテスト生成能力を向上させるため,Phase1とPhase2を動的に切り替える手法を導入している.提案するテスト生成法をISCAS'89のベンチマーク回路によって評価した結果は,実用的な時間で多くの回路に対して高い検出率をもつテスト系列が生成されていることを示している.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-10-29
著者
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