宇宙用及び民生用バイポーラトランジスタのシングルイベント耐性
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概要
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宇宙空間では、銀河宇宙線や太陽フレアからの放射線が半導体デバイスに入射した場合、シングルイベントと呼ばれる誤動作(ソフトエラー)や破壊(ハードエラー)を起こす現象が見られる。これまで、パワーMOSFETのシングルイベント耐性に関するデータを取得してきたが、今回、その測定技術をバイポーラトランジスタに応用し、宇宙用及び民生用バイポーラトランジスタのシングルイベント耐性のデータを取得した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-03-13
著者
-
鈴木 隆博
日本アビオニクス株式会社
-
杉本 憲治
宇宙開発事業団
-
久保山 智司
宇宙開発事業団
-
松田 純夫
宇宙開発事業団
-
久保山 智司
宇宙開発事業団技術研究本部技術研究部
-
平尾 敏雄
日本原子力研究開発機構
-
梨山 勇
日本原子力研究所高崎研究所
-
鈴木 隆博
宇宙開発事業団
-
修行 新一
宇宙開発事業団
-
広瀬 孝幸
菱栄テクニカ
-
大平 秀春
菱栄テクニカ
-
平尾 敏雄
日本原子力研究開発機構:日本大学
-
松田 純夫
宇宙航空研究開発機構総合技術研究本部
-
平尾 敏雄
日本原子力研究所 高崎研究所
-
平尾 敏雄
原研
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