高出力レーザダイオードの連続変調動作試験系

概要

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レーザダイオード(以後「LD」と称す)は宇宙分野において既存の技術に対して小型・軽量化、高性能化(大容量化)を実現する部品として注目されている。宇宙開発事業団(以後「事業団」と称す)においても、OICETS、ETS-VII、ADEOS-IIといったプロジェクトでLDを搭載する予定であり、光出力50mWを越す宇宙用の超高出力LDの開発に着手している。宇宙用LDには特に高信頼性であることが要求されるが、超高出力LDについては寿命も数千時間と短く、十分な信頼性評価もなされていない。また、これまでに数十mW級の低出力LDに対しては信頼性評価がなされてきたが、いずれもCW(Continuous Working)動作のもとでの寿命、劣化現象に対する評価である。しかし、LDは実使用においてほとんどの場合変調動作状態で使用される。それにも関わらずCW動作で試験される理由は、(1)試験系の構築及びデータの評価が容易である、(2)変調動作などの他の動作に比べて、熱、光出力的に最も厳しい条件である、(3)変調動作においてもCW動作で起こる劣化現象が同じように起こると考えられている、からである。ところが、事業団で対象としているようなGaAs系短波長LDについては、変調動作での信頼性評価はほとんどなされておらず、変調動作特有の劣化モードの可能性は否定できない。そこでこれらの点を考慮して、事業団においてGaAs系超高出力LDの変調動作での連続通電試験を実施し、寿命及び劣化現象について評価・検討することとした。ところで、変調動作での連続動作試験系には、いわゆる標準となるものが存在しないため、まず試験系を構築することとした。今回は、連続変調動作試験系の構築の中で特にパルスエージング装置の整備及びその評価について報告する。
社団法人電子情報通信学会の論文
1995-09-05

高出力レーザダイオードの連続変調動作試験系

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