Walsh変換を用いた半導体メモリの故障診断法
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概要
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半導体メモリのフェイル・ビットマップをWalsh変換し,Walshスペクトラムを得て,故障診断を行う方法を提案する.単一縮退故障の場合,0次と1次のスペクトラムの係数のみから故障の種類を判別できることを示す.アドレスのビット数がnのメモリを診断するための計算複雑度はO(n×2^n)なので高速に故障を診断できる.
- 2002-11-21
著者
-
井口 幸洋
明治大学理工学部情報科学化
-
井口 幸洋
明治大学理工学部情報科学科
-
笹尾 勤
九州工業大学 情報工学部 マイクロ化総合技術センター
-
伊勢野 総
明治大学理工学部
-
笹尾 勤
九州工業大学 大学院 情報工学府 情報創成工学専攻
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