大規模メモリテスタ内での故障情報の格納について
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概要
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半導体メモリの大規模化に伴い,テストバーイン装置(以下ではこれを"テスタ"と呼ぶ)も大規模メモリを取り扱うようになってきた.テストの際,各メモリチップの良・不良の判定だけでなく,後で行う故障診断の為に全ての故障情報を記憶しておく必要があるが,この故障情報をそのまま記憶すると大量の記憶装置がテスタ内に必要となり現実的でない.そこで本稿では,この故障情報の圧縮法の提案をする.
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1992-09-28
著者
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