28a-XJ-10 低速陽電子ビーム法による金属薄膜の欠陥評価

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 1999-03-15

著者

• 大平 俊行

  産総研

• 鈴木 良一

  電総研

• 大平 俊行

  電総研

• 金沢 育三

  東学大・物理

• 小森 文夫

  東大物性研

• 伊藤 泰男

  東大原総セ

• 金沢 育三

  東学大物理

• 伊藤 泰男

  東京大学原子力研究総合センター

• 伊藤 泰男

  東大 原子力研総セ

• 寺島 孝武

  東学大物理

• 尾崎 新

  東学大物理

• 寺島 孝武

  東学大物理:(現)阪大産研

• 永田 智啓

  東学大物理

• 永田 智啓

  東大・工:(現)ulvac

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