尾崎 新 | 東学大物理

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概要

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関連著者

• 金沢 育三

  東学大・物理

• 小森 文夫

  東大物性研

• 尾崎 新

  東学大物理

• 金沢 育三

  東学大物理

• 伊藤 泰男

  東大原総セ

• 伊藤 泰男

  東京大学原子力研究総合センター

• 寺島 孝武

  東学大物理:(現)阪大産研

• 寺島 孝武

  東学大物理

• 大平 俊行

  産総研

• 鈴木 良一

  電総研

• 大平 俊行

  電総研

• 伊藤 泰男

  東大 原子力研総セ

• 永田 智啓

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• 永田 智啓

  東大・工:(現)ulvac

• 村田 好正

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• 福谷 克之

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• 村田 好正

  電通大

• 岩本 哲

  東学大物理

• 大滝 英一

  東学大物理

• 高橋 春美

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• 金沢 育三

  東京学芸大.物

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• 金沢 育三

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• 高木 広次

  東学大物理

• 堂山 昌男

  東大工

• 新井 亮太郎

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• 水野 浩伸

  東学大物理

• 伊東 泰男

  東大原総セ

• 寺島 孝武

  東学大・物理

• 岩本 哲

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• 尾崎 新

  東学大・物理

• 江藤 雅弘

  富士写真フィルム(株)

• 堂山 昌男

  帝京科学大

• 岩本 智

  東学大物理

• 堂山 昌男

  帝京科大

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著作論文

• 22pZL-7 陽電子誘起イオン脱離を用いたNi表面の研究
• 24aYA-5 陽電子誘起イオン脱離によるNi表面の評価
• 28a-XJ-9 低速陽電子によるNi表面からの陽電子誘起イオン脱離
• 25pY-11 低速陽電子ビームを用いた金属多層膜の空孔型欠陥の評価
• 25aYL-4 金属薄膜の低速陽電子ビームを用いた欠陥評価
• 28a-XJ-10 低速陽電子ビーム法による金属薄膜の欠陥評価
• 29a-ZA-8 低速陽電子ビームを用いた金属多層膜の欠陥評価
• 26a-K-7 低速陽電子ビームを用いたイメージングプレートによる陽電子の検出とその特性
• 25a-K-9 低速陽電子ビームを用いた金属多層膜非晶質化の研究
• 30a-YC-8 低速陽電子寿命法による金属薄膜Fe,Hfの研究

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