陽電子消滅法による高分子表面の空隙解析

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概要

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• 2006-06-19

著者

• 鈴木 良一

  産総研

• 大平 俊行

  産総研

• 大平 俊行

  産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門

• 鈴木 良一

  産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門

• 池田 健一

  日東電工(株)

• 池田 健一

  日東電工

• 小林 慶規

  産総研計測標準

• 鈴木 良一

  産業技術総合研究所

• 小林 慶規

  産業技術総合研究所

• 大平 俊行

  産業総合技術研究所計測フロンティア研究部門

• 島津 彰

  日東電工

• 川口 佳秀

  日東電工

• 赤坂 みどり

  日東電工

• 小林 慶規

  産総研

• 小林 慶規

  独立行政法人 産業技術総合研究所 計測標準研究部門

• 大平 俊行

  産業技術総合研究所

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