14pXG-14 低速陽電子ビームによる Ni・ポリマー膜の評価(表面界面構造 : 半導体, 領域 9)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2004-08-25

著者

• 鈴木 良一

  産総研

• 大平 俊行

  産総研

• 大平 俊行

  産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門

• 鈴木 良一

  産業技術総合研究所計測フロンティア研究部門

• 金沢 育三

  東学大・物理

• 金沢 育三

  東学大物理

• 鈴木 良一

  産業技術総合研究所

• 大平 俊行

  産業総合技術研究所計測フロンティア研究部門

• 遠藤 大輔

  東学大物理

• 浅見 憲司

  東学大物理

• 大平 俊行

  産業技術総合研究所

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