内部光電子放出法による高分子半導体/陰極界面の電位障壁の評価
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概要
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- 2007-11-09
著者
-
宮入 圭一
信州大学工学部
-
伊東 栄次
信州大学工学部
-
伊東 栄次
信州大学 工学部 電気電子工学科
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宮入 圭一
信州大学 工学部 電気電子工学科
-
山田 晃史
信州大学工学部
-
宮入 圭一
信州大
-
宮入 圭一
信州大学工学部電気電子工学科
-
宮入 圭一
信州大工
-
伊東 栄次
信州大
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