カーボンナノチューブを探針にしたSTM/SREMによるSi表面の観察
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概要
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- 2002-03-01
著者
-
遠藤 勝義
阪大院工
-
森 勇蔵
大阪大学大学院工学研究科
-
遠藤 勝義
大阪大学大学院工学研究科
-
遠藤 勝義
大阪大学大学院
-
秋田 成司
大阪府立大
-
池上 忠明
大阪大学大学院工学研究科 附属超精密科学研究センター
-
池上 忠明
大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター
-
秋田 成司
大阪府大工
-
中山 善萬
大阪府立大学
-
藤井 由紀
大阪大学大学院工学研究科附属超精密科学研究センター
-
Akita Seiji
College Of Engineering Graduate School Of Osaka Prefecture University
-
Akita Seiji
Department Of Physics And Electronics Osaka Prefecture University
-
Akita Seiji
Colleage Of Engineering University Of Osaka Prefecture
-
Akita Seiji
Department Of Physics And Electronics University Of Osaka Prefecture
-
Akita Seiji
Department Of Physics And Electronicsg Graduate School Of Engineering Osaka Prefecture University
-
Akita Seiji
Department Of Physics And Electronics Graduate School Of Engineering Osaka Prefecture University
-
中山 善萬
大阪府立大学大学院工学研究科電子物理工学専攻
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