西村 一己 | 日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
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概要
関連著者
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西村 一巳
NTT LSI研究所
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西村 一己
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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西村 一己
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
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西村 一巳
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
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西村 一巳
日本電信電話(株)NTTフォトニクス研
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山根 康朗
NTTフォトニクス研究所
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山根 康朗
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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小野寺 清光
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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山崎 王義
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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小野寺 清光
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
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入戸野 巧
Nttシステムエレクトロニクス研究所
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徳光 雅美
Ntt フォトニクス研
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西村 一巳
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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杉谷 末広
Ntt フォトニクス研
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徳光 雅美
NTT LSI研究所
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深井 佳乃
NTTフォトニクス研究所
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徳光 雅美
Nttシステムエレクトロニクス研究所
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山根 康朗
NTT LSI研究所
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山崎 王義
NTT LSI研究所
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杉谷 末広
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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青山 真二
日本電信電話株式会社フォトニクス研究所
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小野寺 清光
NTTフォトニクス研究所
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山崎 王義
Nttエレクトロニクス
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入戸野 巧
NTT LSI研究所
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村田 浩一
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
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西村 一巳
日本電信電話(株)フォトニクス研究所
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杉谷 末広
日本電信電話(株)
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広田 哲夫
金沢工業大学
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上綱 秀樹
日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所
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菅原 裕彦
NTTアドバンステクノロジ(株)
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杉谷 末広
日本電信電話株式会社 Nttフォトニクス研究所
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杉谷 末広
日本電信電話株式会社nttフォトニクス研究所
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井上 考
NTT LSI研究所
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日向 文明
NTT LSI研究所
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小野寺 清光
NTT LSI研究所
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新山 肇
NTT LSI研究所
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菅原 裕彦
Ntt Lsi研究所
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神 好人
Ntt 通信エネルギー研
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西村 一巳
NTT システムエレクトロニクス研究所
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神 好人
NTT システムエレクトロニクス研究所
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村田 浩一
NTT システムエレクトロニクス研究所
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山根 康朗
NTT システムエレクトロニクス研究所
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杉谷 末広
NTT LSI研究所
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山崎 肇
Ntt Lsi研究所
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塩島 謙次
NTT LSI研究所
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山根 康朗
NTTLSI研究所
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広田 哲夫
NTTワイヤレスシステム研究所
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日向 文明
Nttシステムエレクトロニクス研究所
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青山 真二
NTTシステムエレクトロニクス研究所
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西村 一巳
NTT エレクトロニクス
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西村 一巳
NTTエレクトロニクス
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西村 一巳
NTTLSI研究所
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徳光 雅美
NTTLSI研究所
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平野 真
NTTLSI研究所
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青山 真二
NTTLSI研究所
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山崎 王義
NTTLSI研究所
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杉谷 末広
Ntt システム・エレクトロニクス研
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小野寺 清光
日本電信電話
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西村 一巳
日本電信電話(株) Nttフォトニクス研
著作論文
- C-10-15 BCB多層配線プロセスを用いたマイクロ波線路の特性(C-10. 電子デバイス,一般セッション)
- 0.1μmAu/WSiNゲートGaAsMESFETの高性能化
- 超高速ディジタル回路用0.1μm級GaAsMESFET
- InGaP/InGaAs/GaAs HMESFETを用いたミリ波帯増幅器
- 0.1μm GaAs MESFETのしきい値電圧高均一化
- 耐熱ゲートInGaP/InGaAs/GaAs HMESFET
- 自己整合0.1umゲートGaAs-MESFETの閾値変動と寿命
- 自己整合0.1umゲートGaAs-MESFETの閾値変動と寿命
- 対称/非対称構造InGaP/InGaAs/GaAs HMESFETとミリ波帯増幅器への応用
- 対称/非対称構造InGaP/InGaAs/GaAs HMESFETとミリ波帯増幅器への応用
- 対称/非対称構造InGaP/InGaAs/GaAs HMESFETとミリ波帯増幅器への応用
- 新BP-LDD構造0.1μmAu/WSiNゲートGaAsMESFET
- 2層構造WSiN電極によるGaAsショットキー接触の耐熱性の向上
- 0.1μm級ゲートGaAs-MESFETを用いたミリ波帯増幅器
- MMIC用二重LDD型H-MESFET
- 超高速集積回路用GaAs MESFETの0.1μm WSiNゲート形成技術