Yamamoto M | Ntt Electronics Technology Corporation

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概要

• 同名の論文著者
• Ntt Electronics Technology Corporationの論文著者

関連著者

• 山本 正樹

  東北大学多元物質科学研究所

• 山本 正樹

  松下技研(株)

• 山本 正樹

  高知大学外科二

• 津留 俊英

  東北大学多元物質科学研究所

• 山本 正樹

  松下電器産業(株)

• 山本 正樹

  東北大学科学計測研究所

• 羽多野 忠

  東北大学多元物質科学研究所

• 榊原 美広

  東北大多元研

• 山本 正樹

  東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部

• 原田 哲男

  兵庫県立大学高度産業科学技術研究所

• 青木 新一郎

  松下電器産業(株)

• 山本 正樹

  東北大科研

• Otsuji Taiichi

  Ntt Network Innovation Laboratories

• Otsuji Taiichi

  Ntt Optical Network Systems Laboratories

• Inoue T

  Tohoku Univ. Sendai Jpn

• Inoue Tatsuya

  Materials And Components Research Laboratory Components And Devices Research Center Matsushita Elect

• Inoue Tetsushi

  Research Laboratory Of Resources Utilization Tokyo Institute Of Technology

• 木村 洋昭

  高輝度光科学研究センター

• 津留 俊英

  東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部

• 豊田 光紀

  東北大学多元物質科学研究所

• Inoue T

  Advanced Discrete Semiconductor Technology Laboratory Corporated Research And Development Center Tos

• 矢橋 牧名

  JASRI

• 石川 哲也

  理研

• 上田 潔

  東北大学多元物質科学研究所

• 福澤 宏宣

  東北大学多元物質科学研究所

• 岩山 洋士

  京大院理

• 永谷 清信

  京大院理

• 八尾 誠

  京大院理

• 奥西 みさき

  東北大多元研

• 上田 潔

  東北大多元研

• 齋藤 則生

  産総研計測標準

• 永園 充

  理研XFEL

• 矢橋 牧名

  理研XFEL

• 大橋 治彦

  理研XFEL

• 木村 洋昭

  理研XFEL

• 東谷 篤志

  理研xfel

• 波岡 武

  日本分光学会

• 木村 洋昭

  JASRI

• 大橋 治彦

  理研xfel:jasri

• 東谷 篤志

  理研 SPring-8

• 矢橋 牧名

  理研 SPring-8

• Sano Eiichi

  Ntt Network Innovation Laboratories

• 齋藤 則生

  産総研・計測標準

• 木村 洋昭

  高輝度光科学研究センター(jasri)

• Czasch Achim

  Frankfurt U.

• Dorner Reinhard

  Frankfurt U.

• 矢橋 牧名

  財団法人高輝度光科学研究センター

• 矢橋 牧名

  高輝度光科学研究センター放射光研究所

• 石川 哲也

  理化学研究所

• 奥西 みさき

  東北大・多元研

• 嶋田 浩三

  東北大多元研

• Prumper Georg

  東北大多元研

• Ullrich Joachim

  MPI Heidelberg

• Foucar Lutz

  Frankfurt U.

• 石川 哲也

  独立行政法人理化学研究所播磨研究所

• Liu Xiao

  東北大・多元研

• Prumper Georg

  東北大多元研:理研xfel

• Prumper G.

  東北大多元研

• Foucar Lutz

  東北大多元研:理研xfel

• 八尾 誠

  京都大・理

• 八尾 誠

  京都大学大学院理学研究科物理学第一教室

• 岩山 洋士

  京都大・理

• 柳原 美広

  東北大多元研

• Rudenko Artem

  理研xfel:asg Cfel

• 本村 幸治

  東北大多元研:理研xfel

• Czasch Achim

  Frankfurt Univ.

• Dorner Reinhard

  Frankfurt Univ.

• Ullrich Joachim

  理研xfel:asg Cfel

• 原田 哲男

  東北大多元研

• 豊田 光紀

  東北大多元研

• 山本 正樹

  東北大多元研

• 劉 小井

  東北大多元研

• LIU Xiao-Jing

  東北大学 多元物質科学研究所

• 斉藤 則生

  産総研

• 石川 哲也

  理化学研究所放射光科学総合研究センター

• 永園 充

  SPring-8

• 山口 恵作

  松下電器産業(株)

• 青木 新一郎

  松下技研(株)

• 石川 哲也

  独立行政法人理化学研究所播磨研究所放射光科学総合研究センター

• 石川 哲也

  理化学研究所播磨研究所x線干渉光学研究室

• 福澤 宏直

  理研xfel:東北大多元研

• 木村 幸治

  Jst-crest

• ISHIBASHI Tadao

  NTT Photonics Laboratories

• ISHIBASHI Tadao

  NTT LSI Laboratories

• Sasaki Yasuhiro

  Display Device Development Division Nec Corporation

• 福澤 宏宣

  東北大多元研

• Liu XiaoJing

  東北大多元研

• 胡 衛兵

  東北大学多元物質科学研究所

• 胡 衛兵

  東北大科研

• 渡邊 誠

  東北大科研

• 本村 幸治

  産総研計測標準

• Rudenko Artem

  MPI Heidelberg

• 佐藤 健夫

  パナソニックモバイルコミュニケーションズ(株)

• 古川 義純

  北大低温研

• 酒井 優

  東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部

• 古川 義純

  北大・低温研

• 山本 正樹

  東北大・科研

• 竹内 宏之

  松下技研(株)

• 山本 正樹

  東北大学 科学計測研究所附属光学超薄膜研究施設

• 原田 哲男

  兵庫県立大学

• 東谷 篤志

  理化学研究所xfel計画推進本部

• 酒井 優

  東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟x線顕微計測研究部

• 谷藤 洋明

  東北大科研

• Yamahata Shoji

  Ntt Photonics Laboratories

• Yamahata S

  Ntt Photonics Lab. Atsugi‐shi Jpn

• 佐藤 健夫

  松下技研(株)超機構研究所

• 黒田 登志雄

  北大低温研

• 松島 功

  産業技術総合研究所

• 西村 博明

  阪大レーザー研

• 近藤 公伯

  阪大レーザー研

• 田中 和夫

  阪大レーザー研

• 井沢 靖和

  阪大レーザー研究センター

• 山下 広順

  名古屋大 理

• 加藤 隆子

  核融合研

• 江島 丈雄

  東北大多元研

• 江島 丈雄

  東北大学多元物質科学研究所

• 羽多野 忠

  東北大科研

• 政井 邦昭

  核融合研

• Rudenko Artem

  理研XFEL

• 富江 敏尚

  電総研

• Liu Xiao

  東北大多元研

• 田中 隆次

  理化学研究所X線自由電子レーザー計画推進本部

• 渡辺 誠

  分子研

• 望月 孝晏

  阪大レーザー研

• 浦崎 智文

  阪大レーザー研

• 山口 直洋

  筑波大プラズマ研究センター

• 渡邊 誠

  東北大多元研

• 近藤 克己

  京大ヘリオトロン

• 藤本 孝

  京大工

• 加藤 裕史

  阪大超高温

• 永谷 清信

  京都大・理

• 藤田 順治

  名大プラズマ研

• 藤田 順治

  名古屋大学プラズマ研究所核融合プラズマ計測センター

• 福澤 宏直

  東北大多元研

• 本村 奉治

  産総研計測標準

• 石川 顕一

  理研

• 田中 隆次

  理研

• 田中 隆次

  理化学研究所・播磨研究所

• 田中 降次

  理研

• 望月 孝晏

  兵庫県立大学高度産業科学技術研究所

• 寒川 潮

  松下電器産業(株)

• 戸坂 亜希

  東北大学多元物質科学研究所

• 梅津 裕生

  東北大学多元物質科学研究所先端計測開発センター軟 X 線顕微計測研究部

• 柳原 美廣

  東北大学多元物質科学研究所

• 笹子 勝

  松下電器産業株式会社半導体社事業本部プロセス開発センター

• 笹子 勝

  松下電器産業(株)半導体研究センター

• 前澤 秀樹

  高エネ研放射光

• 前沢 秀樹

  高エネルギー研放射光

• 岡崎 清比古

  理研

• 山口 恵作

  松下技研(株)

• 渡邉 慶

  北大・低温研

• 山本 正樹

  松下技研 (株)

• 山口 恵作

  松下技研 (株)

• 青木 新一郎

  松下技研 (株)

• TAKEUCHI Seiji

  Nanotechnology Research Center, Canon Inc.

• YOSHII Minoru

  Nanotechnology Research Center, Canon Inc.

• YAMAMOTO Masaki

  Research Institute for Scientific Measurements, Tohoku University

• 波多野 忠

  東北大科研

• 柳原 美廣

  東北大学 科学計測研究所附属光学超薄膜研究施設

• 木村 洋昭

  東北大学 科学計測研究所附属光学超薄膜研究施設

• 渡邊 誠

  東北大学 科学計測研究所附属光学超薄膜研究施設

• 水井 順一

  三菱重工広島製作所

• 水井 順一

  名大プラズマ研

• 西村 博明

  阪大工

• 津留 俊英

  東北大学 多元物質科学研究所

• 羽多野 忠

  東北大学 多元物質科学研究所

• 小貫 英雄

  産総研つくば

• 小貫 英雄

  電総研

• 政井 邦昭

  名大プラズマ

• 山下 広順

  阪大理

• 南部 芳弘

  京大工

• 小山 和義

  電総研

• 宇山 忠男

  阪大超高温

• 矢野 雅昭

  電総研

• 山口 直洋

  Toyota Technological Institute

• 西 師毅

  電総研

• 羽生 光宏

  電総研

• 斎藤 輝文

  電総研

• 長坂 武彦

  電総研

• 波岡 武

  東北大科研

• Terry G.

  MIT

• 加藤 隆子

  名大プラズマ研

• 松島 功

  電総研

• 平林 集

  京大工

• 奥田 誠司

  京大工

• 三谷 七郎

  阪市大原研

• Nakamura Kentaro

  Precision And Intelligence Laboratory Tokyo Institute Of Technology

• 波岡 武

  東北大学科学計測研究所

• 加藤 隆子

  名古屋大 プラズマ研

• ISHIBASHI Tadao

  NTT System Electronics Laboratories

• 寒川 潮

  松下技研(株)超機構研究所

• 中西 淑人

  松下技研(株)超機構研究所

• 杉山 吉幸

  松下技研(株)超機構研究所

• 長野 寛之

  松下電器産業(株)生産技術研究所

• 山下 一博

  松下電器産業(株)半導体研究センター

• 水谷 武

  松下技研(株)

• 正木 健

  松下技研(株)

• 浦崎 智文

  阪大レーザー

• 藤田 順治

  名古屋大学プラズマ研究所

• Yoshii Minoru

  Nanotechnology Research Center Canon Inc.

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著作論文

• 22pZF-5 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験III. : クラスター多重イオン化のレーザー波長・レーザー強度依存性(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
• 22pZF-4 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験II. : クラスター多重イオン化のサイズ依存性(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
• 22pZF-3 極紫外FELによる原子・クラスター多重イオン化実験I. : 反跳イオン運動量分光による高次光分布測定(22pZF 原子・分子,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
• 軟X線多層膜鏡の形状誤差補正のための大面積イオン銃を用いたミリング装置の開発
• 超高精細バイオイメージング用波面補正軟X線多層膜ミラーの開発
• 傾斜エリプソメトリーによる3次元形状計測 (特集 偏光計測)
• 偏光利用による3次元リアルタイム計測法の開発
• 正反射による物体表面の傾斜エリプソメトリー : 精密実時間形状計測への基本概念
• X線ミラー多層膜 (特集欄 ナノテクノロジーにおけるものづくり) -- (真空中で作製するナノ構造)
• 軟X線多層膜光学
• 水晶振動子を用いたバイブロスキャニング法による非導電体の微細形状計測
• バイブロスキャニング法を用いた微細形状測定システムの開発
• 24aC2 偏光解析法による氷結晶粒界での疑似液体層の検出(結晶成長のその場観察II)
• 圧電センサを用いた共振型バイブロスキャン法の開発
• 軟X線多層膜と応用の現状(EUV基盤技術とその応用の現状)
• 31a-YM-6 Ni薄膜のM吸収端におけるファラデー効果
• バイブロスキャン微細穴形状測定装置の開発
• New Ellipsometric Approach to Critical Dimension Metrology Utilizing Form Birefringence Inherent in a Submicron Line-and-Space Pattern
• 5a-G-1 透過型多層膜を用いた軟X線偏光分光法 I
• 軟 X 線エリプソメトリー
• 軟X線ポラライザーの最前線
• 軟X線多層膜光学素子 -放射光科学への応用-
• 反射波面補正のためにイオンミリングした軟X線多層膜鏡の評価
• 軟X線顕微鏡用精密多層膜ミラーの開発
• 昭和 60 年度プラズマ研究所共同研究会「真空紫外・軟 X 線領域での測光機器較正法の研究」プログラム
• KrFエキシマレーザ露光装置用TTLアライメント系の開発
• 放電加工による微細穴加工および微細ポンチの成形(形状創成の高精度化)
• 軟 X 線用偏光子
• Ultra-Fast Optoelectronic Decision Circuit Using Resonant Tunneling Diodes and a Uni-Traveling-Carrier Photodiode (Special Issue on Integrated Electronics and New System Paradigms)
• A Large Output Voltage Swing of a Resonant Tunneling Flip-Flop Circuit Employing a Monostable-Bistable Transition Logic Element (MOBILE)
• A Novel Delayed Flip-Flop Circuit Using Resonant Tunneling Logic Gates
• High-Speed Static Frequency Divider Employing Resonant Tunneling Diodes and HEMTs
• High-Speed and Low-Power D-FF Employing MOBILEs : Monostable-Bistable Transition Logic Elements
• A Multilayered Piezoelectric Transformer Operating in the Third Order Longitudinal Mode and Its Application for an Inverter
• High-Power Characteristics of Multilayer Piezoelectric Ceramic Transducers
• Small Multilayer Piezoelectric Transformers with High Power Density : Characteristics of Second and Third-Mode Rosen-Type Transformers
• Low-Frequency Sound Source with Dual Bending Radiation Surfaces
• Investigation of Disk Bender Low-Frequency Projector with Dual Radiation Surfaces
• An Optoelectronic Clock Recovery Circuit Using a Resonant Tunneling Diode and a Uni-Traveling-Carrier Photodiode (Joint Special Issue on Recent Progress in Optoelectronics and Communications)
• An Optoelectronic Clock Recovery Circuit Using a Resonant Tunneling Diode and a Uni-Traveling-Carrier Photodiode (Joint Special Issue on Recent Progress in Optoelectronics and Communications)
• An Optoelectronic Logic Gate Monolithically Integrating Resonant Tunneling Diodes and a Uni-Traveling-Carrier Photodiode
• Device Figure-of-Merits for High-Speed Digital ICs and Baseband Amplifiers
• IC-Oriented Self-Aligned High-Performance AlGaAs/GaAs Ballistic Collection Transistors and Their Applications to High-Speed ICs (Special Issue on Heterostructure Electron Devices)
• High-Performance Small-Scale Collector-Up AlGaAs/ GaAs HBT's with a Carbon-Doped Base Fabricated Using Oxygen-lon Implantation (Special Issue on Heterostructure Devices and Epitaxial Growth Techniques)
• 軟X線用多層膜ミラーの設計・製作・評価(X線光学)
• Wavelength-Multiplexed Holographic Recording in Cerium Doped Strontium Barium Niobate by Using Tunable Laser Diode
• High-Density Optical Storage with Multiplexed Holographic Recording Method
• Crosstalk-Suppressed Readout System Using Shading Band
• Three-Track Readout Method Using Two Offset Beams
• Temperature Dependence of the Phase Coherence Length of High-Mobility AlGaAs/GaAs Quantum-Wire Rings
• Highly Uniform Regrown In_Ga_As/AlAs/InAs Resonant Tunneling Diodes on In_Ga_As
• Uniformity of the High Electron Mobility Transistors and Resonant Tunneling Diodes Integrated on an InP Substrate Using an Epitaxial Structure Grown by Molecular Beam Epitaxy and Metalorganic Chemical Vapor Deposition
• Crucial Role of Extremely Thin AlSb Barrier Layers in InAs/AlSb/GaSb/AlSb/InAs Resonant Interband Tunneling Diodes
• Dependence of Resonant Interband Tunneling Current on Barrier and Well Width in InAs/AlSb/GaSb/AlSb/InAs Double-Barrier Structures
• Conductance Oscillations in a Quantum Wire with a Stub Structure due to Quantum Interference
• 軟X線用多層膜の形成とその利用
• 偏光解析法(エリプソメトリ-) (表面の評価技術) -- (表面状態評価法)
• 氷結晶表面における疑似液体層の存在と結晶のモルフォロジー : モルフォロジーIII
• 4a-I-8 偏光解析法による氷表面の疑似液体層の研究
• 偏光解析法による氷表面の疑似液体層の研究 : 厚さの温度依存性と方位依存性
• 回転素子型エリプソメ-タ-とその調整(最近の技術から)

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