X-Ray Interference and Crystal Truncation Rod Observation of GaN and GaInN Layers Grown on Sapphire with AlN Buffer Layer (Proceedings of the Second International Conference on SRMS(Synchrotron Radiation in Materials Science)(2))

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概要

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• Publication Office, Japanese Journal of Applied Physics, Faculty of Science, University of Tokyoの論文

著者

• 田淵 雅夫

  名大工

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