Increasing yield using partially-programmable circuits (VLSI設計技術)
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概要
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本論文では,回路の一部をLUTに置き換えたPartially-Programmable Circuits (PPCs)と名付けた回路を用いることで製造歩留まりを向上させる手法を提案する.PPCの中のいくつかのLUTの機能を変更させすることにより,ある結線が冗長となる場合,その結線は「故障に強い」と考えられる.その理由は,その結線にいかなる故障が起こってもいくつかのLUTの内部論理の変更により回路を正常に動作させることが可能だからである.そのような故障に強い結線を増やすために,SPFDやCSPFといった論理関数の自由度を利用して冗長な結線を回路に追加する手法を提案する.簡単な予備実験から,我々のアプローチは有望であると確認できた.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2009-11-25
著者
-
山下 茂
立命館大学情報理工学部
-
藤田 昌宏
東京大学大学院工学系研究科電子工学
-
吉田 浩章
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター
-
吉田 浩章
東北大学電気通信研究所
-
藤田 昌宏
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター:科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業crest
-
吉田 浩章
東京大学大学院工学系研究科
-
吉田 浩章
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(vdec)|科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業crest
-
藤田 昌宏
東京大学大規模集積システム設計教育研究センター(vdec)|科学技術振興機構戦略的創造研究推進事業crest
-
山下 茂
立命館大学
-
藤田 昌宏
富士通研
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