銀薄膜上のLB膜の全反射減衰法による測定
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概要
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我々は、厚さ約50nmの銀薄膜上に有機分子をLB法で数層累積し、金属, 誘電体界面に存在する表面プラズモンを励起する全反射減衰(ATR)法で、LB膜の高感度測定を行った。用いたLB分子は、光学的に透明なアラキジン酸(C20)および異性化反応を起こすスピロピラン色素(SP)である。ATRは角度掃引型の測定装置を用いて高精度に測定された。C20LB膜の実験結果はカーブフィティングを行い、膜厚が求められた。また、SPL B膜ではSP分子の構造や光学的特性によるATR信号が観測された。このような高精度なATR測定は有機超薄膜の評価に有力であると考える。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-11-25
著者
-
若松 孝
茨城工業高等専門学校
-
金子 双男
新潟大学大学院自然科学研究科
-
金子 双男
新潟大学超域研究機構:新潟大学大学院自然科学研究科
-
金子 双男
新潟大学工学部
-
加藤 景三
新潟大学工学部
-
小林 敏志
新潟大学工学部
-
Kato K
Shizuoka Johoku Senior High School Shizuoka Jpn
-
齊木 仁
新潟大
-
本多 章作
新潟大学工学部
-
齊木 仁
新潟大学工学部
-
本多 章作
新潟大学
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