ポリビニルシンナメート膜を用いた液晶分子配向の全反射減衰法による評価
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概要
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アルミニウム薄膜上にスピンコートした光重合性のポリビニルシンナメート(PVCi)を液晶配向膜として液晶セルを作製し、配向膜上液晶分子の振る舞いを全反射減衰(ATR)法を用いて評価した。ATR法では導波モードを励起することにより、液晶セル中の液晶分子の配向を観測できる。本研究では、ATRの導波モードの測定結果と理論計算を比較することにより、PVCi膜上液晶層のチルト角を評価した。また、液晶セルを組み立てた後に直線偏光紫外光(LP-UV)の照射を行い、光重合処理によるPVCi膜上の液晶分子の光配向についても検討を行った。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1998-11-20
著者
-
馬場 暁
新潟大学超域研究機構
-
新保 一成
新潟大学工学部電気電子工学科
-
若松 孝
茨城工業高等専門学校
-
金子 双男
新潟大学大学院自然科学研究科
-
金子 双男
新潟大学超域研究機構:新潟大学大学院自然科学研究科
-
金子 双男
新潟大学工学部
-
加藤 景三
新潟大学工学部
-
磯部 将良
新潟大学工学部電気電子工学科
-
山形 滋徳
新潟大学工学部電気電子工学科
-
馬場 暁
新潟大学工学部電気電子工学科
-
Kato K
Shizuoka Johoku Senior High School Shizuoka Jpn
-
Kato Ken-ichi
Department Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering Osaka City University
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