全反射減衰法によるSAM配向膜上液晶の評価
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概要
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全反射減衰法(ATR法)は、液晶セルの光導波層に励起される導波モードを用いることにより、この層の光学定数などの情報を求めることができる。液晶分子は、光学的異方性を有しており、液晶分子の配向評価法として、ATR法は有望である。 本研究では、液晶配向膜としてラビングレスの自己組織化膜(Self-Assembled Monolayers, SAM)を用いて液晶セルを作製し、SAM上での液晶分子の配向についてATR法を用いて評価した。
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1997-08-13
著者
-
馬場 暁
新潟大学超域研究機構
-
馬場 暁
新潟大学大学院自然科学研究科
-
新保 一成
新潟大学大学院自然科学研究科
-
加藤 景三
新潟大学大学院自然科学研究科
-
金子 双男
新潟大学大学院自然科学研究科
-
金子 双男
新潟大学超域研究機構:新潟大学大学院自然科学研究科
-
Kato K
Shizuoka Johoku Senior High School Shizuoka Jpn
-
Kato Ken-ichi
Department Of Electrical Engineering Faculty Of Engineering Osaka City University
-
山形 滋徳
新潟大学大学院自然科学研究科
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