Probing of Electric Field Distribution in ITO/PI/P3HT/Au Using Electric Field Induced Second Harmonic Generation
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概要
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By using electric field induced second harmonic generation (EFISHG) and Capacitance-Voltage (C-V) measurements, we studied carrier behaviors in ITO/polyimide (PI)/poly (3-hexylthiophene)(P3HT)/Au diodes. Photoillumination caused the threshold voltage shift in the C-V, and agreed well with the shift probed by the EFISHG. Results suggested trapped electrons were accumulated in the PI layer.
- 2011-02-01
著者
-
間中 孝彰
東工大
-
岩本 光正
東工大
-
若本 光正
東工大
-
TAGUCHI Dai
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
-
MIYAZAWA Ryo
Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology
-
Mori Takehiko
Faculty Of Engineering Tohoku Institute Of Technology
-
岩本 光正
東京工業大学
-
Iwamoto Mitsumasa
Tokyo Inst. Technol. Tokyo Jpn
-
Iwamoto M
Department Of Physical Electronics Tokyo Institute Of Technology
-
Iwamoto Mitsumasa
Dept. Of Phys. Elec Tokyo Tech.
-
Motoji Toshiko
Tokyo Women's Medical University
-
Mori Takehiko
Department Of Organic Materials Tokyo Institute Of Technology
-
Manaka Takaaki
Department Of Physical Electronics Graduate School Of Science And Engineering Tokyo Institute Of Tec
-
岩本 光正
東京工業大学大学院・理工学研究科
-
Taniguchi M
Division Of Material Chemistry Faculty Of Engineering Kyoto University
-
Iwamoto Mitsumasa
Department Of Electrical And Electronic Engineering
-
Manaka Takaaki
Graduate School Of Science And Engineering Department Of Physical Electronics Tokyo Institute Of Tec
-
Taguchi Dai
Department Of Physical Electronics Tokyo Institute Of Technology
-
Mori T
Division Of Hematology Department Of Medicine Keio University School Of Medicine
-
Miyazawa Ryo
Department Of Physical Electronics Tokyo Institute Of Technology
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