二次イオン質量分析を用いた酸化亜鉛薄膜のキャラクタリゼーション
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概要
著者
-
齋藤 紀子
物質・材料研究機構
-
羽田 肇
National Institute for Materials Science
-
羽田 肇
物質・材料研究機構
-
坂口 勲
物質・材料研究機構
-
大橋 直樹
物質・材料研究機構
-
菱田 俊一
物質・材料研究機構
-
坂口 勲
物材機構
-
菱田 俊一
物材機構物質研
-
菱田 俊一
物材機構
-
羽田 肇
無機材質研究所
-
坂口 勲
無機材質研究所
-
羽田 肇
National Institute For Materials Science (nims)
-
大橋 直樹
九州大学大学院量子プロセス理工学
-
坂口 勲
物質・材料研究機構物質研究所電子セラミックスグループ
-
大橋 直樹
九州大学大学院量子プロセス理工学:物質材料研究機構
-
羽田 肇
九州大学大学院量子プロセス理工学:物質材料研究機構
-
坂口 勲
(独)物質・材料研究機構 光材料センター光電機能グループ
-
坂口 勲
科学技術庁無機材質研究所第4研究グループ
-
菱田 俊一
科学技術庁無機材質研究所
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