AFMを用いた極薄膜の密着性と耐摩耗性の評価
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概要
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- 日本トライボロジ-学会の論文
- 2001-06-15
著者
-
金子 礼三
和歌山大学 システム工学部 光メカトロニクス学科
-
廣野 滋
NTTアフティ(株)ECR事業部
-
廣野 滋
Mesアフティ株式会社
-
梅村 茂
千葉工業大学工学部
-
廣野 滋
Nttアフティ
-
金子 礼三
もと和歌山大学システム工学部
-
安藤 康子
NTTサイバースペース研究所
-
梅村 茂
千葉工業大学
-
安藤 康子
日本電信電話株式会社サイバースペース研究所
-
金子 礼三
和歌山大学システム工学部光メカトロニクス学科
-
廣野 滋
エム・イー・エス・アフティ株式会社
-
梅村 茂
千葉工業大学 工学部 機械サイエンス学科
-
金子 礼三
和歌山大学
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