組成変調を持つTi-TiN多層構造薄膜のナノインデンテーション法による硬さの評価
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概要
著者
-
南戸 秀仁
金沢工業大学・ものづくり研
-
草野 英二
金沢工業大学
-
金原 粲
金沢工業大学AMS R&D C
-
北河 勝
金沢工業大学 高度材料科学研究開発センター
-
佐藤 彰繁
金沢工業大学 高度材料科学研究開発センター
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南戸 秀仁
金沢工業大学
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北河 勝
金沢工業大学amsrc
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黒田 靖信
金沢工業大学AMSRC
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金原 粲
金沢工業大学
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佐藤 彰繁
金沢工業大学amsrc
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佐藤 彰繁
金沢工業大学 A MSR & DC
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北河 勝
金沢工業大学 A MSR & DC
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