渡辺 行彦 | (株)豊田中央研究所
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概要
関連著者
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渡辺 行彦
(株)豊田中央研究所
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渡辺 行彦
豊田中央研究所
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光嶋 康一
(株)豊田中央研究所
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吉田 友幸
(株)豊田中央研究所
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光嶋 康一
(株)豊田中央研究所半導体デバイス・センサ研究室
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中嶋 健次
株式会社豊田中央研究所
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酒井 朗
名古屋大学工学研究科
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安田 幸夫
名古屋大学工学部
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財満 鎭明
名古屋大学大学院工学研究科
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酒井 朗
大阪大学
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酒井 朗
名古屋大学
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安田 幸夫
名古屋大学大学院工学研究科結晶材料工学専攻:(現)高知工科大学総合研究所
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近藤 博基
名古屋大学大学院工学研究科
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Kondo H
Department Of Biochemical Engineering And Science Kyushu Institute Of Technology
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世古 明義
名古屋大学
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勝野 高志
(株)豊田中央研究所
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藤原 広和
トヨタ自動車(株)
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小西 正樹
トヨタ自動車(株)
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山本 武雄
(株)デンソー 基礎研究所
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遠藤 剛
(株)デンソー 基礎研究所
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副島 成雅
豊田中研
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副島 成雅
(株)豊田中央研究所
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財満 鎭明
名古屋大学先端技術共同研究センター
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中嶋 健次
(株)豊田中央研究所
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船橋 博文
(株)豊田中央研究所
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近藤 博基
名古屋大学大学院光学研究科
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安田 幸夫
名古屋大学
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Kondo Hideo
Institute Of Advanced Material Study Graduate School Of Engineering Sciences And Crest Japan Science
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Kondo Hirotomo
Department Of Applied Chemistry Faculty Of Engineering Sojo University
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Kondo H
Department Of Applied Chemistry Faculty Of Engineering Sojo University
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財満 鎭明
名古屋大学
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兼近 将一
株式会社 豊田中央研究所
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石子 雅康
(株)豊田中央研究所
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兼近 将一
豊田中研
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小西 正樹
トヨタ自動車
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藤原 広和
トヨタ自動車
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大西 豊和
トヨタ自動車（株）
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濱田 公守
トヨタ自動車（株）
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中村 剛志
トヨタ自動車(株)第4電子技術部
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多賀 康訓
豊田中央研究所
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光嶋 康一
豊田中央研究所
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杉山 隆英
豊田中央研究所
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兼近 将一
豊田中央研究所
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杉山 隆英
(株)豊田中央研究所
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兼近 将一
(株)豊田中央研究所
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只野 博
(株)豊田中央研究所
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濱田 公守
トヨタ自動車(株)
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恩田 正一
デンソー基礎研
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鶴田 和弘
デンソー
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大西 豊和
トヨタ自動車(株)
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中村 剛志
トヨタ自動車
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恩田 正一
デンソー
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勝野 高志
豊田中央研究所
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森野 友生
デンソー
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山本 武雄
デンソー
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遠藤 剛
デンソー
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山本 敏雅
デンソー
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濱田 公守
トヨタ自動車
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大西 豊和
トヨタ自動車
著作論文
- 4H-SiC JBSダイオードの逆方向特性に影響を与える表面欠陥の解析
- SOI-CMOS OPアンプのオフセット電圧評価
- 4H-SiC JBSダイオードの逆方向特性に影響を与える表面欠陥の解析
- 電子注入ストレスを加えたゲート酸化膜の電流検出型原子間力顕微鏡による解析(電子材料)
- 電流検出型原子間力顕微鏡を用いたゲート絶縁膜の局所リーク電流評価(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- 電子注入ストレスを加えたゲート酸化膜の電流検出型原子間力顕微鏡による解析 : ゲート絶縁膜劣化機構の微視的評価(ゲート絶縁膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
- Si中結晶欠陥制御によるゲート酸化膜寿命分布の改善
- Bイオン注入によって誘起されるOSFと酸化膜信頼性との関係
- Bイオン注入によって誘起されるOSFと酸化膜信頼性との関係
- Bイオン注入によって誘起されるOSFと酸化膜信頼性との関係
- 電圧ランプ法により求めた破壊電圧からのゲート酸化膜寿命予測
- 電圧ランプ法により求めた破壊電圧からゲート酸化膜寿命予測
- 電圧ランプ法により求めた破壊電圧からのゲート酸化膜寿命予測
- 高温動作MOSFETのデバイス構造の検討
- 低貫通欠陥密度SiC基板を用いた4H-SiC JBSダイオードのリーク電流解析