青木 徹 | 静岡大学・電子工学研究所

スポンサーリンク

概要

• 青木 徹の詳細を見る
• 同名の論文著者
• 静岡大学・電子工学研究所の論文著者

関連著者

• 青木 徹

  静岡大学・電子工学研究所

• 青木 徹

  静岡大学電子工学研究所

• 三村 秀典

  静岡大学電子工学研究所

• 三村 秀典

  The Research Institute Of Electronics Shizuoka University

• 根尾 陽一郎

  静岡大学電子工学研究所

• 根尾 陽一郎

  静岡大学・電子工学研究所

• 根尾 陽一郎

  静岡大学 電子工学研究所

• 三村 秀典

  静岡大学・電子工学研究所

• 森井 久史

  静岡大学・電子工学研究所

• 長尾 昌善

  産業技術総合研究所

• 森井 久史

  静岡大学電子工学研究所

• 吉田 知也

  産業技術総合研究所

• 吉田 知也

  独立行政法人 産業技術総合研究所

• 金丸 正剛

  産業技術総合研究所

• 金丸 正剛

  電総研

• 金丸 正剛

  産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門

• 小池 昭史

  株式会社ANSeeN

• 小池 昭史

  静岡大学電子工学研究所

• 三村 秀典

  静岡大学大学院電子科学研究科

• 武田 匡史

  静岡大学電子工学研究所

• 山下 進

  静岡大学電子工学研究所

• 中川 雅史

  静岡大学・電子工学研究所

• 松原 勝見

  静岡大学・電子工学研究所

• 酒井 健太郎

  名城大学理工学部

• 村田 英一

  名城大学理工学部

• 田中 昭

  静岡大学電子工学研究所

• 小澤 哲夫

  静岡理工科大学

• 稲富 裕光

  宇宙航空研究開発機構 宇宙科学研究本部 宇宙環境利用科学研究系

• 早川 泰弘

  静岡大学電子工学研究所

• 恒川 裕輝

  静岡大学・電子工学研究所

• 小山 忠信

  静岡大学電子工学研究所

• 松原 勝見

  静岡大学電子工学研究所

• 百瀬 与志美

  静岡大学電子工学研究所技術部

• 村田 英一

  名城大学理工学部電気電子工学科

• 惣田 崇志

  静岡大学 電子工学研究所

• アリバナンドハン ムカンナン

  静岡大学電子工学研究所

• 岡野 泰則

  静岡大学電子工学研究所

• 藤野 高弘

  静岡大学電子工学研究所

• 中村 篤志

  静岡大学電子工学研究所

• 天明 二郎

  静岡大学電子工学研究所

• 惣田 崇志

  静岡大学電子工学研究所

• ラジェッシュ ゴビンダサミー

  静岡大学電子工学研究所

• 西 孝

  産業技術総合研究所

• 中川 雅史

  静岡大学電子工学研究所

• 百瀬 与志美

  静大電研

• 百瀬 与志美

  静岡大学電子工学研究所

• 山下 進

  静岡大学・電子工学研究所

• 小山 忠信

  電子工学研究所技術部

• 稲富 裕光

  宇宙航空研究開発機構宇宙科学研究本部宇宙環境利用科学研究系

• 稲富 裕光

  宇宙航空研究開発機構

• 橋本 歩

  静岡大学電子工学研究所

• 奥之山 隆治

  静岡大学電子工学研究所

• 四ノ宮 文二

  静岡大学電子工学研究所

• 田上 智也

  静岡大学電子工学研究所

• 堀江 瞬

  静岡大学電子工学研究所

• 恒川 裕輝

  静岡大学電子工学研究所

• 高木 康男

  静岡大学電子工学研究所

• ラジェツシュ ゴビンダサミー

  静岡大学電子工学研究所

• Okano Y

  Shizuoka Univ. Hamamatsu Jpn

• 奥之山 隆治

  静岡大学

• 古木 裕記

  静岡大学電子工学研究所

• 中川 聡

  静岡大学電子工学研究所

• 松本 貴裕

  スタンレー電気

• 岡松 航太

  静岡大学電子工学研究所

• 塙 裕一郎

  静岡大学電子工学研究所

• 坂田 拓也

  静岡大学電子工学研究所

• 韓 貴

  静岡大学電子工学研究所

• 松本 貴裕

  スタンレー電気株式会社

• 大西 慶明

  静岡大学電子工学研究所

• 松本 貴祐

  物性研

• 畑中 義式

  愛知工科大学

• 萩原 啓

  NHK放送技術研究所

• 堺 俊克

  NHK放送技術研究所

• 嶋脇 秀隆

  八戸工業大学大学院工学研究科

• 根尾 陽一郎

  静岡大学 大学院電子科学研究科

• 富田 康弘

  浜松ホトニクス(株)

• 三村 秀典

  静岡大学 電子科学研究所

• 石田 悠

  静岡大学・電子工学研究所

• 中村 篤志

  静岡大学大学院・電子科学研究科

• NIRAULA M.

  名古屋工業大学・電気情報工学科

• 坂下 大祐

  静岡大学・電子工学研究所

• 天明 二郎

  静岡大学・電子工学研究所

• 斎藤 信雄

  NHK放送技術研究所

• 斎藤 信雄

  (株)国際電気通信基礎技術研究所

• 青木 徹

  静岡大学 電子工学研究所

• Niraula Madan

  静岡大学電子科学研究科

• ニラウラ マダン

  名古屋工業大学・電気情報工学科

• Niraula M

  名古屋工大

• 嶋脇 秀隆

  八戸工業大学システム情報工学科・助教授

• 三村 秀典

  静岡大学

• 横尾 邦義

  株式会社イデアルスター

• 小澤 哲夫

  静岡工科大学

• ニラウラ マダン

  名古屋工大 大学院

• ニラウラ マダン

  名古屋工業大学工学部

• 小池 昭文

  静岡大学電子工学研究所

• 中島 拓也

  静岡大学電子工学研究所

• スウ ブンケン

  静岡大学電子工学研究所

• 武田 匡史

  静岡大学 電子工学研究所

• 石原 純二

  静岡大学電子工学研究所

• 大橋 俊哉

  静岡大学電子工学研究所

• 川田 善正

  静岡大学創造科学技術大学院

• 富田 康弘

  浜松ホトニクス株式会社

• Niraula Madan

  名古屋工業大学電気情報工学科

• 堺 俊克

  NHK技研

• 富田 康弘

  浜松ホトニクス

• 青木 徹

  静岡大学

• 嶋脇 秀隆

  八戸工業大学工学部

• 陳 崇瀚

  静岡大学電子工学研究所

• 高橋 康之

  静岡大学電子工学研究所

• 世森 光裕

  静岡大学電子工学研究所

• 丸太 武司

  静岡大学創造科学技術大学院

• 宮本 正雄

  静岡大学創造科学技術大学院

• 長尾 正善

  産業技術総合研究所

• 岡部 和也

  静岡大学電子工学研究所

• ブンケン スウ

  静岡大学電子工学研究所

• 横尾 那義

  東北大通研

もっと見る 閉じる

著作論文

• エネルギー弁別X線CTによる材質識別イメージング(セキュリティカメラ,車載カメラ,サーベイランス技術,関連デバイス,および一般)
• サファイア基板上のZnOナノドット制御(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
• VTF-FEAを用いたCdTe X線イメージングデバイスの開発
• 低温プロセスを用いたCdTeピクセル高エネルギー放射線検出器の作製
• サファイア基板上のZnOナノドット制御(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si, SiGe,その他の電子材料))
• フィールドエミッタアレイを用いたCdTe放射線検出器の研究
• 集束電極付FEAを用いたCdTe-X線イメージセンサの提案(機能ナノデバイスとおよび関連技術)
• 電界集中係数緩和を用いた放射電流の安定化(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
• 混晶半導体バルク結晶成長に対する重力効果(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• 混晶半導体バルク結晶成長に対する重力効果(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• 混晶半導体バルク結晶成長に対する重力効果(結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
• CdTe放射線検出器を用いたイメージング装置の開発
• 放射角制御可能なマイクロカラム用電子銃の作成と評価(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
• Field Emitter Arrayの高機能化とその応用 : FEAを用いた新規アプリケーションの提案(機能ナノデバイス及び関連技術)
• Field Emitter Arrayの高機能化とその応用 : FEAを用いた新規アプリケーションの提案(機能ナノデバイス及び関連技術)
• 集束電極付FEAを用いたCdTe-X線イメージセンサの提案(機能ナノデバイスとおよび関連技術)
• エネルギー弁別型半導体検出器と画像計測
• フィールドエミッションアレイを用いたX線イメージング技術
• 高精細FED用ダブルゲートFEAの開発
• 高精細FED用ダブルゲートFEAの開発(ディスプレイに関する技術全般,LCD(バックライトを含む),PDP,有機/無機EL,CRT,FED,VFD,LEDなどのディスプレイに関するデバイス,部品・材料及び応用技術,発光型/非発光型ディスプレイ合同研究会)
• X線検査装置向けフォトンカウンティング検出器 (特集 損傷や欠陥を見抜く非破壊検査)
• RPE-MOCVD法を用いた可視域Zn_CdxO薄膜成長(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
• 混晶半導体バルク結晶成長に対する重力効果
• 混晶半導体バルク結晶成長に対する重力効果
• マイクロサイズの電子線筐筒の開発とその応用(機能ナノデバイス及び関連技術)
• マイクロサイズの電子線筐筒の開発とその応用(機能ナノデバイス及び関連技術)
• マイクロサイズ電子線筐筒用の電子銃部に関する研究(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
• 表面プラズモン共鳴による光励起カソードに関する研究(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
• MEH-PPVナノファイバー形成とその発光特性評価 (電子ディスプレイ)
• MEH-PPVナノファイバー形成とその発光特性評価 (情報ディスプレイ)
• フォトンカウンティングCTの原理
• 12-5 Vertical Thin Film Field Emitter Arrayを用いたCdTe X線イメージングデバイス(第12部門 センシング2)
• 12-6 FEA駆動CdTe-X線イメージセンサ(第12部門 情報センシング2)
• MEH-PPVナノファイバー形成とその発光特性評価
• 12-2 高速CTを目指した低ステップCT撮影(第12部門 情報センシング2)
• 13-6 レーザー描画計算機ホログラム(第13部門 情報ディスプレイ1)
• 12-6 フォトン毎の立ち上がり信号を利用したCdTeイメージングセンサー(第12部門 センシング2)
• 12-4 低ステップX線CT撮像における垂直方向透過像を用いた画像補間(第12部門 センシング2)
• 12-5 フォトンカウンティングX線センサの高速化(第12部門 情報センシング2)
• 12-4 蓄積型センサーによるX線エネルギー弁別(第12部門 情報センシング2)
• 12-3 材料識別型フォトンカウンティングX線CT(第12部門 情報センシング2)
• 5-3 X線3D-CTを目指したホログラムデータへの直接変換と高速化(第5部門 立体映像技術)
• 14-6 高精細FED用ダブルゲートFEA(第14部門 情報ディスプレイ2)
• 1-6 FEA駆動フォトンカウンティング型CdTe-X線イメージングデバイス(第1部門 センシング&コンシューマエレクトロニクス&ストレージ)
• 超高精細FED用微小電子源の電子光学特性
• 高柳健次郎と全電子式テレビジョン
• 2-12 高精細FED用静電レンズ一体型FEAの試作と評価(第2部門 ディスプレイ)
• 1. X線イメージング(非可視光領域のセンシング・画像処理技術)

もっと見る 閉じる

スポンサーリンク