X線検査装置向けフォトンカウンティング検出器 (特集 損傷や欠陥を見抜く非破壊検査)

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概要

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著者

• 青木 徹

  静岡大学・電子工学研究所

• 奥之山 隆治

  静岡大学電子工学研究所

• 小池 昭史

  静岡大学電子工学研究所

• 奥之山 隆治

  静岡大学

• 小池 昭史

  株式会社ANSeeN

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