小池 昭史 | 株式会社ANSeeN
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概要
関連著者
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小池 昭史
株式会社ANSeeN
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小池 昭史
静岡大学電子工学研究所
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三村 秀典
静岡大学電子工学研究所
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青木 徹
静岡大学・電子工学研究所
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根尾 陽一郎
静岡大学電子工学研究所
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青木 徹
静岡大学電子工学研究所
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三村 秀典
The Research Institute Of Electronics Shizuoka University
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根尾 陽一郎
静岡大学 電子工学研究所
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根尾 陽一郎
静岡大学・電子工学研究所
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長尾 昌善
産業技術総合研究所
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三村 秀典
静岡大学・電子工学研究所
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藤野 高弘
静岡大学電子工学研究所
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吉田 知也
産業技術総合研究所
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三村 秀典
静岡大学大学院電子科学研究科
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吉田 知也
独立行政法人 産業技術総合研究所
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酒井 健太郎
名城大学理工学部
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村田 英一
名城大学理工学部
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森井 久史
静岡大学・電子工学研究所
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村田 英一
名城大学理工学部電気電子工学科
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西 孝
産業技術総合研究所
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森井 久史
静岡大学電子工学研究所
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奥之山 隆治
静岡大学電子工学研究所
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高木 康男
静岡大学電子工学研究所
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奥之山 隆治
静岡大学
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四ノ宮 文二
静岡大学電子工学研究所
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青木 徹
静岡大学
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世森 光裕
静岡大学電子工学研究所
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Aoki Toru
Research Institute Of Electronics Shizuoka University
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神田 信子
産業技術総合研究所
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YOSHIDA Tomoya
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
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Mimura Hidenori
Research Institute Of Electrical Commnication Tohoku University
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Neo Yoichiro
Reseach Institute Of Electrical Communication Tohoku University
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川田 善正
静岡大学創造科学技術大学院
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小池 昭史
静岡大学
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丸太 武司
静岡大学創造科学技術大学院
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宮本 正雄
静岡大学創造科学技術大学院
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Takagi Yasuo
Research Institute of Electronics, Shizuoka University, Hamamatsu 432-8011, Japan
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Tagami Tomoya
Research Institute of Electronics, Shizuoka University, Hamamatsu 432-8011, Japan
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Koike Akifumi
Research Institute of Electronics, Shizuoka University, Hamamatsu 432-8011, Japan
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Nagao Masayoshi
Research Institute of Electronics, Shizuoka University, Hamamatsu 432-8011, Japan
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Mimura Hidenori
Reseach Institute of Electrical Communication, Tohoku University,
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Aoki Toru
Reseach Institute of Electronics, Shizuoka University, Hamamatsu 432-8011 Japan
著作論文
- 放射角制御可能なマイクロカラム用電子銃の作成と評価(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
- X線検査装置向けフォトンカウンティング検出器 (特集 損傷や欠陥を見抜く非破壊検査)
- Emission and Focusing Characteristics of a Quintuple-Gated Field Emitter Array
- X線デジタルスペクトロメータ「ANS-XDS0001」 (特集 高精細・高コントラストを実現する!X線検査装置)
- マイクロサイズの電子線筐筒の開発とその応用(機能ナノデバイス及び関連技術)
- マイクロサイズの電子線筐筒の開発とその応用(機能ナノデバイス及び関連技術)
- マイクロサイズ電子線筐筒用の電子銃部に関する研究(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
- 静電レンズ一体型フィールドエミッタの作製方法の改良(電子管と真空ナノエレクトロニクス及びその評価技術)
- 放射線センサの仕組み
- 超高精細FED用微小電子源の電子光学特性 (電子ディスプレイ)
- 超高精細FED用微小電子源の電子光学特性 (情報ディスプレイ)
- フォトンカウンティングCTの原理
- Spectral Energy X線非破壊検査 (特集 非破壊検査で早期発見・早期対応)
- 13-6 レーザー描画計算機ホログラム(第13部門 情報ディスプレイ1)
- 12-6 フォトン毎の立ち上がり信号を利用したCdTeイメージングセンサー(第12部門 センシング2)
- 12-5 フォトンカウンティングX線センサの高速化(第12部門 情報センシング2)
- 5-3 X線3D-CTを目指したホログラムデータへの直接変換と高速化(第5部門 立体映像技術)
- 9-8 ホログラムによるエネルギー弁別型X線3DCTシステム(第9部門 立体映像技術)
- 超高精細FED用微小電子源の電子光学特性
- 1. X線イメージング(非可視光領域のセンシング・画像処理技術)