原子間力顕微鏡を用いたReRAMフィラメントの物性解析 (集積回路)

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概要

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• 2011-04-18

著者

• 岸田 悟

  鳥取大学工学部電気電子工学科

• 木下 健太郎

  鳥取大学工学研究科電気電子工学専攻

• 岸田 悟

  鳥取大学電子ディスプレイ研究センター

• 依田 貴稔

  鳥取大学工学部電気電子工学科

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