ダイナミックストレスに対するp型低温ポリシリコン薄膜トランジスタの信頼性評価 (低温ポリSi TFTと有機EL技術)
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概要
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- 電子情報通信学会の論文
- 2001-04-19
著者
-
畑山 智亮
Graduate School Of Materials Science Nara Institute Of Science And Technology
-
長野 奈津代
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
-
梅野 智和
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
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