走査型プローブ顕微鏡による電界電子放射の計測
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概要
著者
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横山 浩
産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門
-
井上 貴仁
産業技術総合研究所ナノテクノロジー研究部門
-
伊藤 順司
電子技術研究所
-
伊藤 順司
産業技術総合研究所
-
井上 貴仁
サントリー(株)生物医学研究所
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