パスディレイテストを用いた部分パス遅延値推定手法(DFM,システムオンシリコンを支える設計技術)
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概要
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近年のLSIの微細化技術の進歩により,設計時に想定していた様々な性能値から製造時にずれが生じるいわゆる製造ばらつきによるタイミング故障が深刻な問題となっている.これは,各FF回路のクロック到着時刻および各FF回路間のパス遅延値がずれるため発生する故障である.この故障への対処として,製造時にあらかじめ遅延値を変更できるPDE素子をクロック分配木に挿入しておき,製造後にPDEの遅延値を制御する製造後クロック到着時刻調整手法が提案されている.このPDEを利用した製造後クロック到着時刻調整手法においては,ばらつきの結果生じた製造後遅延値の高効率高精度な見積もりが重要である.本稿では,動作時テストとして利用されているパスディレイテストを利用し,そのテスト結果により,そのパス,及び,そのパスを構成する部分パスの遅延値推定手法を提案する.実験によりその有効性を確認する.また,遅延値を推定した結果を用いて製造後クロック到着時刻調整手法を用いることにより既存の遅延値推定手法より高い歩留まりが得られることを示す.
- 2011-02-23
著者
-
高島 康裕
北九州市立大学国際環境工学部情報メディア工学科
-
中村 祐一
NECシステムIPコア研究所
-
高島 康裕
北九州市立大学 国際環境工学部
-
志岐 卓信
北九州市立大学国際環境工学部
-
中村 祐一
Nec システムipコア研
-
高島 康裕
北九州市立大学国際環境工学研究科
-
高島 康裕
北九州市立大学国際環境工学研究科情報工学専攻
-
志岐 卓信
北九州市立大学国際環境工学研究科
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